粒(li)徑(jing)分析儀(yi)：粒(li)度測量的(de)儀器

　　粒(li)徑(jing)分儀的(de)測量原(yuan)理有(you)多(duo)種，包(bao)括光(guang)散(san)射法(fa)、電(dian)感應法、顯(xian)微鏡(jing)法(fa)等(deng)。其(qi)中(zhong)，光(guang)散(san)射法(fa)是(shi)zui常用的(de)壹種，其(qi)原理是利用光(guang)散(san)射的(de)原理來(lai)測量顆(ke)粒(li)大小(xiao)。當壹束光(guang)通(tong)過(guo)介(jie)質(zhi)時(shi)，會(hui)受到(dao)顆(ke)粒(li)的(de)散(san)射，散(san)射光(guang)的(de)強度(du)和方向會(hui)因顆粒(li)大小(xiao)的(de)不(bu)同而有(you)所(suo)差(cha)異(yi)。通(tong)過(guo)測量散(san)射光(guang)的(de)強度(du)和方向，可以推(tui)算出顆粒(li)的(de)大小(xiao)。

　　粒(li)徑(jing)分析儀(yi)主(zhu)要由(you)進(jin)樣(yang)器、測量系(xi)統和數據(ju)處理系統(tong)等組(zu)成(cheng)。其中(zhong)，進(jin)樣(yang)器用於(yu)將(jiang)待(dai)測顆粒(li)樣品(pin)引(yin)入測量系(xi)統；測量系(xi)統則利用測量原(yuan)理對(dui)顆粒(li)進行測量；數(shu)據(ju)處理系統(tong)則對(dui)測量數(shu)據(ju)進行處理和分析，輸(shu)出(chu)測量結果(guo)。

　　使用(yong)粒(li)徑(jing)分析儀(yi)時(shi)，需(xu)要註意以下幾(ji)點：首(shou)先(xian)，要選擇合適的(de)測量原(yuan)理和方法(fa)，以適應不(bu)同的(de)顆粒(li)特(te)性和待(dai)測要求；其次(ci)，要(yao)進(jin)行準(zhun)確(que)的(de)樣品(pin)制(zhi)備和進樣(yang)操作(zuo)，以保證(zheng)測量的(de)準(zhun)確(que)性(xing)和重(zhong)復(fu)性；最(zui)後(hou)，要(yao)對(dui)數據(ju)處理結果(guo)進行合理分析和解(jie)釋，以(yi)便(bian)獲(huo)得正確(que)的(de)顆粒(li)大小(xiao)信息(xi)。

　　總之粒(li)徑(jing)分析儀(yi)是(shi)壹種粒(li)度測量工具，具有(you)準(zhun)確(que)、快(kuai)速、非破(po)壞(huai)性(xing)等(deng)優點(dian)。通過(guo)它，可(ke)以(yi)有(you)效(xiao)地(di)控制(zhi)生(sheng)產過(guo)程中(zhong)的(de)顆粒(li)大小(xiao)，提(ti)高(gao)產品質(zhi)量和穩定(ding)性，促(cu)進(jin)工業(ye)生(sheng)產的(de)可持(chi)續(xu)發展(zhan)。