粒徑分(fen)析(xi)儀(yi)：解(jie)讀微(wei)觀(guan)世(shi)界(jie)的(de)尺寸密(mi)碼(ma)

 　　粒徑分(fen)析(xi)儀(yi)是壹種廣泛(fan)應用(yong)於(yu)材料(liao)科(ke)學、化工(gong)、藥(yao)物(wu)研究等(deng)領(ling)域(yu)的(de)儀(yi)器設備，主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)分(fen)析(xi)和(he)測量(liang)微(wei)粒或顆粒的(de)尺寸分(fen)布和(he)形(xing)態(tai)特(te)征(zheng)。粒徑儀利用(yong)現(xian)代(dai)光(guang)學、電子(zi)學和計算機技(ji)術(shu)，通(tong)過對(dui)樣(yang)品中(zhong)微(wei)粒的(de)光(guang)散(san)射、電(dian)阻(zu)或電流(liu)等(deng)特性(xing)的(de)測(ce)量(liang)，進(jin)而(er)得到微粒的(de)尺寸分(fen)布和(he)形(xing)態(tai)參(can)數。其(qi)中(zhong)最常(chang)見(jian)的(de)方(fang)法包(bao)括(kuo)激(ji)光粒度分(fen)析(xi)、動態光(guang)散(san)射技(ji)術(shu)和電(dian)阻(zu)計數(shu)法(fa)等(deng)。通(tong)過這些(xie)手段(duan)，粒徑儀可(ke)以精確(que)地(di)測量(liang)微(wei)粒的(de)直(zhi)徑、體積(ji)、表(biao)面(mian)積(ji)等(deng)參(can)數，為(wei)微(wei)觀(guan)世(shi)界(jie)的(de)研究提(ti)供了(le)重(zhong)要(yao)的(de)數(shu)據(ju)支持(chi)。