本儀器采用(yong)了磁性和(he)渦流兩種(zhong)測厚方(fang)法，可無損(sun)的(de)測量(liang)磁性金屬基體(ti)（如(ru)鐵、合金和(he)硬磁性鋼等(deng)）上非磁性覆(fu)層的厚度(du)（如銅、鋁(lv)、鉻、琺瑯、橡膠(jiao)、油(you)漆等(deng)）及(ji)非(fei)磁性金屬基體(ti)（如(ru)銅、鋁(lv)、鋅(xin)、錫等(deng)）上的非導電(dian)覆(fu)層的厚度(du)（如琺瑯、橡膠(jiao)、油(you)漆、塑(su)料等(deng)）。可(ke)自(zi)動識(shi)別金屬底(di)材(cai)，自(zi)動開(kai)關(guan)機(ji)。有中(zhong)英日韓文菜(cai)單(dan)，數(shu)據(ju)統(tong)計功(gong)能，USB接口(kou)。本儀器小(xiao)巧，耐(nai)用(yong)，操(cao)作(zuo)簡(jian)便。測量(liang)精(jing)度：1％ 感應面(mian)積3mm×3mm分(fen)辨(bian)率：100um以下(xia)0.1um，100um以上1um量(liang)程0～2000um

COSMOS-1X型(xing)熒光(guang)X線(xian)鍍層測厚儀(膜厚計)

產品(pin)編號(hao): #433 產(chan)品(pin)名(ming)稱: 433型(xing)機(ji)械式(shi)漆膜測厚儀 符(fu)合 ISO 2808 ， BS 3900:C5 標準。總(zong) 論(lun) 膜厚測量(liang)在(zai)油(you)漆和(he)塗料(liao)的(de)使用(yong)和(he)檢(jian)測中起(qi)壹個(ge)重(zhong)要(yao)的(de)作(zuo)用(yong)。在(zai)決定外觀(guan)、保(bao)護(hu)性能和(he)持(chi)久(jiu)性能時(shi)，膜(mo)厚是壹個(ge)決定性的因素(su)。 塗膜(mo)太(tai)薄(bo)不(bu)能提供(gong)足(zu)夠的(de)保護(hu)並減少遮(zhe)蓋力(li)。因此(ci)，必須執(zhi)行(xing)技(ji)術規格(ge)所規定的Z小(xiao)厚度(du)並確保(bao)這(zhe)些(xie)值(zhi)的(de)*性。

有相(xiang)同長度的齒 1 和(he)齒 12 的(de)梳形(xing)測量(liang)儀器（圖(tu) 2 ）穿透濕(shi)膜(mo)到(dao)基材(cai)。在(zai)齒 2 到(dao)齒 11 間(jian)，與(yu)基材(cai)的(de)距(ju)離逐(zhu)漸增長。齒 6 到(dao)齒 11 浸(jin)到(dao)塗層中而(er)齒 2 到(dao)齒 5 不(bu)與(yu)塗料(liao)接(jie)觸(chu)。測量(liang)結果(guo)則(ze)為(wei)齒 5 和(he)齒 6 的(de)平(ping)均(jun)值(zhi)。

碟形(xing)測量(liang)儀器（圖(tu) 1 ）在濕(shi)膜(mo)表(biao)面(mian)滾動。在(zai)此過(guo)程中兩個(ge)滾花(hua)，對中(zhong)輪(lun)緣（ 1 ）在(zai)基材(cai)上 滾過(guo)，當輪(lun)緣到(dao)凸輪(lun)的距(ju)離等(deng)於(yu)被測濕(shi)膜(mo)厚度(du)時(shi)偏(pian)心(xin)凸輪(lun)（ 2 ）則(ze)會粘上塗料(liao)。

儀器結構堅(jian)固，易(yi)於操作(zuo)，用(yong)於(yu)評估(gu)厚度(du)至1.2 mm（0.05″）的(de)金屬片(pian)上塗層的杯(bei)突(tu)性能。