HORIBA堀場微區X射線(xian)熒(ying)光(guang)分析(xi)儀(yi) 型號XGT-9000 XGT-9000 樣(yang)品(pin)倉可容納各(ge)種(zhong)樣(yang)品(pin)，包(bao)括微型碎(sui)片、印刷電(dian)路板、硬(ying)幣(bi)、薄(bo)片、粉末、液(ye)體(ti)、晶(jing)圓(yuan)等，並(bing)根(gen)據(ju)需求提供樣(yang)品(pin)架。

產地類別 進(jin)口 分散方(fang)式 幹(gan)濕(shi)法分散 價(jia)格(ge)區(qu)間(jian) 面(mian)議 儀(yi)器(qi)種(zhong)類 顆粒圖像(xiang)分析(xi)儀(yi) ......

產地類別 進(jin)口 分散方(fang)式 幹(gan)濕(shi)法分散 價(jia)格(ge)區(qu)間(jian) 面(mian)議 儀(yi)器(qi)種(zhong)類 顆粒圖像(xiang)分析(xi)儀(yi) ......

高效(xiao)功能(neng)和(he)高靈敏(min)度(du)的(de)新產品(pin)XGT-1700WR保(bao)留了(le)和(he)XGT-1000WR相(xiang)同的(de)系(xi)統(tong)，而(er)新光(guang)學(xue)系(xi)統(tong)則提高(gao)了(le)靈敏度(du)。XGT-1700WR支(zhi)持 WEEE/RoHS, ELV 和中(zhong)國RoHS。 用X-ray成(cheng)像(xiang)顯(xian)微鏡(jing)克進行(xing)高(gao)靈(ling)敏(min)度(du)XRF定(ding)性(xing)和(he)定(ding)量(liang)分析(xi)。XGT-5000WR為WEEE/RoHS, ELV和(he)中(zhong)國RoHS特別設(she)計(ji)，用於(yu)5元素(Pb/Cd/Cr/Hg/Br)高靈敏(min)度(du)測(ce)量(liang)並(bing)帶(dai)有(you)X射線(xian)顯(xian)微鏡(jing)功(gong)能。

HORIBA為了(le)對(dui)應今年三(san)月(yue)開始的(de)中(zhong)國版RoHS對(dui)有(you)害元(yuan)素物(wu)質檢(jian)測(ce)需要(yao)的(de)不斷(duan)提高(gao)，強化(hua)了X射線(xian)分析(xi)裝(zhuang)置(zhi)系(xi)列產品(pin)，推出(chu)靈(ling)敏度(du)更(geng)高的(de)XGT-1700WR和XGT-5700WR。特長●借助新(xin)光(guang)學(xue)系(xi)統(tong)提高檢(jian)測(ce)靈敏(min)度(du)X線(xian)照射徑(jing)Ø3mm, 雙層濾(lv)膜(mo)(1次?2次濾(lv)膜(mo)※)●同時實現(xian)微小部(bu)分析(xi)和(he)高靈(ling)敏(min)度(du)分析(xi)微小部(bu)分析(xi):X線(xian)照射徑(jing)Ø1.2mm?5元素(su)同時分析(xi)用濾膜(mo)高靈(ling)敏度(du)分析(xi):X線(xian)照射徑(jing)Ø3mm?雙層濾(lv)膜(mo)

臺(tai)式XGT - 5200系(xi)統(tong)搭(da)載(zai)*的(de)X射線(xian)導管(guan)，允許高(gao)空間(jian)分辨率的(de)X射線(xian)熒(ying)光(guang)分析(xi)--從1.2毫(hao)米(mi)到(dao)10微米(mi)。無需任何(he)樣(yang)品(pin)制備或(huo)真(zhen)空--樣(yang)品(pin)僅需(xu)要(yao)放(fang)置(zhi)在(zai)樣(yang)品(pin)室(shi)中(zhong)，即(ji)可在正常大(da)氣壓(ya)力下(xia)分析(xi)。*整(zheng)合的(de)軟(ruan)件可控(kong)制樣(yang)品(pin)的(de)移動(dong)，獲取(qu)數據(ju)分析(xi)（包(bao)括定(ding)性(xing)和(he)定(ding)量(liang)分析(xi)，並(bing)生成(cheng)成(cheng)分組成(cheng)圖像(xiang)）。將樣(yang)品(pin)放(fang)在樣(yang)品(pin)祥(xiang)中(zhong)後，只(zhi)需幾秒(miao)鐘，借助直觀(guan)的(de)“point and click"選擇(ze)分析(xi)位(wei)置(zhi)，即(ji)開始抓取(qu)數(shu)據(ju)。