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簡要描(miao)述：可進(jin)行零部件(jian)和(he)完成品的冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)試(shi)驗(yan)。本(ben)體由：電熱(re)器(qi)和儲熱(re)系(xi)統(tong)構(gou)成的高(gao)溫室、二次元冷(leng)凍系統(tong)和儲冷(leng)系統(tong)構(gou)成的低溫室(shi)和試(shi)驗(yan)區(qu)三(san)部分(fen)組(zu)成。通過氣(qi)門的開(kai)閉(bi)急(ji)速(su)交換(huan)試(shi)驗(yan)區(qu)的冷(leng)熱空(kong)氣(qi)來(lai)實(shi)現(xian)對(dui)試(shi)驗(yan)樣(yang)品的冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)。樣(yang)品無(wu)須(xu)移(yi)動(dong)，減(jian)少了振(zhen)動(dong)對(dui)樣品(pin)的影(ying)響(xiang)，且極有(you)利於(yu)樣品(pin)的在(zai)線測試(shi)。
產品型號：WINTECH冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)箱(xiang)廠商性質(zhi)：代(dai)理商(shang)更新(xin)時間：2023-07-25訪 問(wen) 量(liang)：1029相(xiang)關(guan)文章(zhang)
詳細介(jie)紹
冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)試(shi)驗(yan)*---WINTECH系(xi)列靜(jing)態(tai)三(san)箱冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)箱(xiang)
可進(jin)行零部件(jian)和(he)完成品的冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)試(shi)驗(yan)。本(ben)體由：電熱(re)器(qi)和儲熱(re)系(xi)統(tong)構(gou)成的高(gao)溫室、二次元冷(leng)凍系統(tong)和儲冷(leng)系統(tong)構(gou)成的低溫室(shi)和試(shi)驗(yan)區(qu)三(san)部分(fen)組(zu)成。通過氣(qi)門的開(kai)閉(bi)急(ji)速(su)交換(huan)試(shi)驗(yan)區(qu)的冷(leng)熱空(kong)氣(qi)來(lai)實(shi)現(xian)對(dui)試(shi)驗(yan)樣(yang)品的冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)。樣(yang)品無(wu)須(xu)移(yi)動(dong)，減(jian)少了振(zhen)動(dong)對(dui)樣品(pin)的影(ying)響(xiang)，且極有(you)利於(yu)樣品(pin)的在(zai)線測試(shi)。
ETAC公司根(gen)據(ju)20年(nian)以(yi)上冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)試(shi)驗(yan)設(she)備(bei)的設(she)計(ji)生(sheng)產(chan)經驗(yan)，開(kai)發(fa)了這(zhe)款WINTECH系(xi)列(lie)拳(quan)頭(tou)產品(pin)。
特(te)點
1． 溫(wen)度恢復快(kuai)速(su)
2． 樣(yang)品靜(jing)止(zhi)
3． 高(gao)溫/低溫(wen)和(he)高(gao)溫/常溫(wen)/低(di)溫兩種(zhong)模式(shi)
4． 全規格對(dui)應(ying)
適用(yong)標(biao)準(zhun)
○IEC 68-2-14
○GB/T 2423.22 – 2002
○EIAJ – ED – 4701（試(shi)驗(yan)方法(fa)105）
○MIL – STD – 883G（試(shi)驗(yan)方法(fa)1010.8）
○MIL – STD – 202G（試(shi)驗(yan)方法(fa)107.G）
產(chan)品名(ming)稱(cheng) | 氣(qi)槽式冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)試(shi)驗(yan)箱(xiang) Air-to-Air Temp. Cycle Test Chamber | ||||||
適用(yong)試(shi)驗(yan) | 2槽(cao)或3槽式(shi)冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)試(shi)驗(yan)（試(shi)驗(yan)樣(yang)品靜(jing)止(zhi)方式(shi)） | ||||||
生(sheng)產(chan)廠家 | ETAC | ||||||
Model No. | NT1230A | NT530A | |||||
性 能(neng) | 試(shi) 驗(yan) 區(qu) 域 | 低溫試(shi)驗(yan)溫(wen)度範(fan)圍(wei) | -65℃～0℃ | ||||
高(gao)溫試(shi)驗(yan)溫(wen)度範(fan)圍(wei) | +60℃～200℃ | ||||||
溫(wen)度(du)復歸(gui)性(xing)能(neng) | 溫(wen)度(du)復歸(gui)時間 | 4分(fen)鐘(zhong)以(yi)內(nei) | |||||
試(shi)驗(yan)條(tiao)件 | 低(di)溫暴(bao)露時間 | -55℃:30分(fen)鐘(zhong) | |||||
常(chang)溫暴(bao)露時間 | 常溫(wen):5分(fen)鐘(zhong) | ||||||
高(gao)溫暴(bao)露時間 | 150℃:30分(fen)鐘(zhong) | ||||||
試(shi)驗(yan)樣(yang)品 | 塑(su)料(liao)封(feng)裝集成IC2.5kg | ||||||
傳(chuan)感(gan)器(qi)位(wei)置(zhi) | 風上 | ||||||
低溫(wen)室 | 預冷(leng)溫度(du)範(fan)圍(wei) | -75℃～-5℃ | |||||
高(gao)溫室 | 預熱溫(wen)度範(fan)圍(wei) | +70℃～225℃ | |||||
本(ben)體 | 構(gou)造 | 3槽式(shi)（試(shi)驗(yan)室(shi)，高(gao)溫室，低(di)溫(wen)室） | |||||
試(shi)驗(yan)槽(cao)內(nei)部尺(chi)寸（W×H×D） | 650×500×400 | 370×330×400 | |||||
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