CT-1型(xing)電解(jie)式(shi)鍍(du)層測厚儀(yi)（膜(mo)厚(hou)計(計)）

規(gui)格參(can)數：

1．測量範圍：0.006～300 um
2．zui消解析(xi)度(du)：0.001 um
3．本(ben)機(ji)精(jing)確(que)度(du)：±1％
4．測(ce)量面積：3.4、2.4、1.7∮mm
5．電解(jie)速(su)度(du)：125、12.5、1.25nm/色(se)c
6．測量單位：um、nm、二(er)種(zhong)
7．靈敏(min)度(du)調(tiao)節：5段(duan)可調
8．本(ben)體(ti)尺(chi)寸(cun)：200（W）*150（H）*150（D）mm
9．本(ben)體(ti)重(zhong)量：1.8kg
10．誤(wu)差可校正範(fan)圍：±15％
11．使(shi)用(yong)電壓(ya)：AC110V（220V）/50,60Hz

儀(yi)器(qi)特(te)點：

 可測(ce)金(jin)屬鍍(du)層：金(jin)、銀、化學鎳、銦、硬鉻(ge)、裝飾鉻(ge)、鋅(xin)、 鎘、錫、 鉛、銅、鈷、鎳、鐵、多(duo)重鎳、黑(hei)鉻(ge)
 可測(ce)合金(jin)鍍層：錫鋅(xin)合金(jin)、錫鉛(qian)合金(jin)、銅鋅(xin)合金(jin)、鎳鈷合金(jin)、鎳鐵合金(jin)

產(chan)品(pin)優(you)點:

1、各(ge)種(zhong)鍍層（多(duo)層、合金(jin)）的精(jing)密測(ce)量；
2、除平(ping)板形(xing)外，還可以(yi)通過提供(gong)的(de)圖(tu)表測量圓形(xing)、棒(bang)形(xing)（細線(xian)）等各(ge)種(zhong)形(xing)狀
3、可(ke)高精(jing)度(du)測(ce)量其(qi)它(ta)方式(shi)不(bu)易測量的三層以(yi)上(shang)的(de)鍍層；
4、可制作(zuo)非破壞式(shi)膜(mo)厚儀(yi)的(de)標(biao)準(zhun)板；
5、可(ke)檢(jian)查(zha)非破壞式(shi)膜(mo)厚儀(yi)的(de)測(ce)量精(jing)度(du);
6、全(quan)部開(kai)關(guan)都為轉(zhuan)盤(pan)式(shi)，簡(jian)單易懂(dong)，操(cao)作(zuo)及保養容(rong)易(yi)。
7、標準板校(xiao)正(zheng)值的計(ji)算(suan)和(he)設(she)定可自動(dong)進(jin)行(xing)；
8、三(san)檔(dang)測量速(su)度(du), 可(ke)以(yi)準確(que)測量極(ji)薄鍍層厚度(du)
9、可(ke)分(fen)離測(ce)量銅（合金(jin)）上(shang)的(de)錫（合金(jin)）鍍層間的(de)擴散（合金(jin)）層;
10、*的測量臺（電測(ce)公(gong)司(si)）是(shi)利用(yong)條形(xing)彈(dan)簧(huang)方式(shi),使(shi)操(cao)作(zuo)方便(bian)簡(jian)單.