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當前位置(zhi):首頁 > 產(chan)品(pin)中心 > > HORIBA(過(guo)程&環境) > LB-550V激(ji)光散(san)射顆粒度(du)分布(bu)測試儀

簡要(yao)描述(shu):產地類(lei)別(bie) 進口(kou) 應用(yong)領域 化工,石油(you),建材(cai),電(dian)子(zi),汽(qi)車(che) HORIBA的(de)粒度(du)分布(bu)檢(jian)測裝(zhuang)置LA系列(lie)中高(gao)性(xing)能機種新登場。實(shi)現了(le)目(mu)前業(ye)內(nei)高(gao)的(de)檢(jian)測精(jing)度和(he)速度,檢(jian)測從亞(ya)微米到(dao)毫(hao)米(mi)級的(de)粉(fen)體(ti)等(deng)各(ge)種“粒的(de)大(da)小" 。
產(chan)品(pin)型號(hao):LB-550V
廠商性(xing)質:代(dai)理商(shang)
更(geng)新(xin)時(shi)間:2023-07-27
訪 問(wen) 量:724相關(guan)文(wen)章(zhang)
詳(xiang)細介(jie)紹
LB-550,LB-550V高(gao)精(jing)度納(na)米(mi)級的(de)顆(ke)粒度(du)測量儀(yi)。
概(gai)要(yao)
裝(zhuang)備粘(zhan)度計(ji)內置型的(de)納(na)米級粒子(zi)徑測定裝(zhuang)置。
應(ying)用(yong)於醫療、科(ke)學、環境、能量、機(ji)械、生(sheng)物(wu)…等(deng)大(da)範圍(wei)領域的(de)納(na)米顆粒徑測定,
依(yi)靠(kao)HORIBA長年積(ji)累(lei)的(de)粒子(zi)徑計測技(ji)術和(he)經(jing)驗(yan),所推(tui)出的(de)納(na)米級粒子(zi)徑測定裝(zhuang)置LB-550和(he)LB-550V ( 內(nei)置(zhi)高精(jing)度粘(zhan)度(du)計 )。實(shi)現了(le)從1nm的(de)分子(zi)?原(yuan)子(zi)級超微小區(qu)域到(dao)6000nm的(de)大(da)量程測定。特(te)別(bie)是(shi)對(dui)於從幾ppm到(dao)數(shu)十%的(de)大(da)範圍的(de)樣品(pin)濃度(du),能夠在(zai)短時(shi)間內簡(jian)單且高精(jing)度地(di)檢(jian)測在(zai)接近(jin)試(shi)樣本身狀態的(de)分散(san)狀(zhuang)態下(xia)的(de)粒子(zi)徑分布(bu)。而(er)且準(zhun)備了(le)粘度(du)計(ji)內(nei)置型,粘(zhan)度值也(ye)能自動(dong)測定並輸入。使(shi)得在(zai)復雜預處理和(he)使用電(dian)子(zi)顯(xian)微鏡進行(xing)確認(ren)等(deng)評價(jia)很困(kun)難的(de)納(na)米和(he)亞微米尺(chi)寸(cun)的(de)控制(zhi)領域引(yin)發(fa)了(le)變革(ge)。
特(te)點
■較寬(kuan)的(de)測量範(fan)圍(wei)
1nm~6000nm (6um) 實(shi)現了(le)納米(mi)級到(dao)亞(ya)微米級的(de)測量
■從低(di)濃度(du)到(dao)高(gao)濃度的(de)寬(kuan)範圍(wei)適(shi)應(ying)性(xing)
對(dui)於從幾個(ge)ppm到(dao)高(gao)到(dao)40%濃(nong)度(du)的(de)樣品(pin),可(ke)無(wu)稀(xi)釋的(de)測定。很大(da)程度(du)保(bao)留原(yuan)樣品(pin)顆粒形(xing)態
■短時(shi)間測定
通過實(shi)時(shi)監視(shi)器對(dui)毎1秒的(de)粒徑分布(bu)進行(xing)抽樣後(hou),能夠瞬間把(ba)握。
■多樣的(de)附件(jian)
內(nei)置(zhi)式粘度計,試(shi)樣的(de)粘(zhan)度測定和(he)粒子(zi)徑評價(jia)能夠壹次完成(cheng)。可(ke)選(xuan)自(zi)動(dong)進樣器系統LY-501/LY-502實(shi)現質量控制(zhi)和(he)測試過程自(zi)動(dong)化
■高(gao)精(jing)度的(de)試(shi)樣的(de)溫度自動(dong)控制(zhi)
能夠通過軟(ruan)件(jian)自動(dong)控制(zhi)樣品(pin)的(de)溫度管(guan)理,所以(yi)高精(jing)度的(de)測定具(ju)有很好(hao)的(de)重復性(xing)。
規(gui)格(ge)
測試原(yuan)理 | 動(dong)態光散(san)射原(yuan)理 |
量程 | 1納(na)米(mi)~6000納(na)米(mi) |
測試時(shi)間 | 2分鐘左(zuo)右(從開(kai)始(shi)測量到(dao)獲得結(jie)果) |
需(xu)要(yao)樣品(pin)量 | 0.1~15毫(hao)升(sheng) |
分散(san)媒介(jie) | 水(shui), 有(you)機(ji)溶劑兼容 |
通訊(xun) | SCSI II 接(jie)口(kou) |
激(ji)光源 | 650納(na)米(mi)波長激光二(er)極管(guan),5mW |
檢(jian)測器 | 超(chao)高(gao)靈敏度PMT檢(jian)測器 |
測試部分溫控範(fan)圍(wei) | 5到(dao)70攝(she)氏(shi)度可(ke)設定 |
測量池(chi) | 石(shi)英(ying) Cuvette Cell |
電(dian)源 | AC100/120/230V 50/60Hz, 150VA |
外(wai)形(xing)尺(chi)寸(cun) | 340 (長) x 565 (寬(kuan)) x 510 (高(gao))毫(hao)米(mi) |
主(zhu)機重量(僅分析(xi)儀) | 26kg |
黏度測定範圍 | 0.4-10mPas (僅為附加黏度度(du)計(ji)型) |
電(dian)腦(nao) | IBM PC/AT Windows XP 兼(jian)容(rong)微機 |
操作(zuo)系統 | Windows XP |
打印機 | Windows XP compatible printer |
顯(xian)示器 | Windows XP compatible monitor |
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