伊(yi)斯(si)拉(la)高精度(du)3D測量

伊(yi)斯(si)拉(la)高精度(du)3D測量

SpecGAGE3D-transmission （透射(she)）

具(ju)備(bei)高(gao)清(qing)晰(xi)度，可(ke)檢(jian)測(ce)透明(ming)表面(mian)上(shang)細微(wei)的(de)缺(que)陷

SpecGAGE3D-transmission（透射(she)）可檢(jian)測(ce)透明(ming)表面(mian)（例(li)如玻(bo)璃或塑料(liao)）上(shang)細(xi)微(wei)的(de)缺(que)陷，如劃(hua)傷(shang)、雜(za)質(zhi)和汙點。

該(gai)系統能(neng)夠可靠(kao)地檢(jian)測(ce)並(bing)分類(lei)可(ke)能(neng)影響(xiang)產(chan)品外觀(guan)的審美缺(que)陷，以及功(gong)能(neng)性材料(liao)損(sun)壞(huai)，例如觸(chu)摸(mo)顯(xian)示(shi)屏上(shang)的缺(que)陷。

然後(hou)根據(ju)缺(que)陷的尺寸(cun)和(he)嚴重程(cheng)度，對部件進(jin)行(xing)分類(lei)以(yi)供返(fan)工(gong)，或從(cong)工(gong)藝(yi)中(zhong)拒絕有(you)缺(que)陷的部件。質量保證系統有(you)助於(yu)確(que)保(bao)僅(jin)交付(fu)所(suo)需部件，從(cong)而(er)大(da)限(xian)度(du)地減少(shao)投訴。

根據組件種類(lei)和(he)缺(que)陷類(lei)型，可(ke)以(yi)用*清(qing)晰(xi)度測(ce)量單(dan)個(ge)組件或同時測(ce)量多個(ge)組件。之後(hou)，即使(shi)在(zai)極(ji)短的(de)周期(qi)時間(jian)內(nei)，也能(neng)夠較(jiao)大(da)程(cheng)度縮(suo)短測(ce)量時間(jian)，從(cong)而(er)提(ti)供可靠(kao)的(de)100％監(jian)控。

伊(yi)斯(si)拉(la)高精度(du)3D測量

產(chan)品詳細信息

無(wu)論組件形狀如何(he)，能(neng)夠提(ti)供高分辨率

快(kuai)速采集數(shu)據(ju)

對平(ping)面(mian)和(he)曲(qu)面(mian)區域進(jin)行(xing)缺(que)陷檢(jian)測(ce)

橫(heng)向(xiang)分辨率高達10 µm

全(quan)自(zi)動或(huo)半(ban)自動(dong)操作(zuo)

可集(ji)成(cheng)到生(sheng)產(chan)線中(zhong)

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具(ju)備(bei)高(gao)清(qing)晰(xi)度，可(ke)檢(jian)測(ce)透明(ming)表面(mian)上(shang)細微(wei)的(de)缺(que)陷

SpecGAGE3D-transmission（透射(she)）可檢(jian)測(ce)透明(ming)表面(mian)（例(li)如玻(bo)璃或塑料(liao)）上(shang)細(xi)微(wei)的(de)缺(que)陷，如劃(hua)傷(shang)、雜(za)質(zhi)和汙點。

該(gai)系統能(neng)夠可靠(kao)地檢(jian)測(ce)並(bing)分類(lei)可(ke)能(neng)影響(xiang)產(chan)品外觀(guan)的審美缺(que)陷，以及功(gong)能(neng)性材料(liao)損(sun)壞(huai)，例如觸(chu)摸(mo)顯(xian)示(shi)屏上(shang)的缺(que)陷。

然後(hou)根據(ju)缺(que)陷的尺寸(cun)和(he)嚴重程(cheng)度，對部件進(jin)行(xing)分類(lei)以(yi)供返(fan)工(gong)，或從(cong)工(gong)藝(yi)中(zhong)拒絕有(you)缺(que)陷的部件。質量保證系統有(you)助於(yu)確(que)保(bao)僅(jin)交付(fu)所(suo)需部件，從(cong)而(er)大(da)限(xian)度(du)地減少(shao)投訴。

根據組件種類(lei)和(he)缺(que)陷類(lei)型，可(ke)以(yi)用*清(qing)晰(xi)度測(ce)量單(dan)個(ge)組件或同時測(ce)量多個(ge)組件。之後(hou)，即使(shi)在(zai)極(ji)短的(de)周期(qi)時間(jian)內(nei)，也能(neng)夠較(jiao)大(da)程(cheng)度縮(suo)短測(ce)量時間(jian)，從(cong)而(er)提(ti)供可靠(kao)的(de)100％監(jian)控。

產(chan)品詳細信息

無(wu)論組件形狀如何(he)，能(neng)夠提(ti)供高分辨率

快(kuai)速采集數(shu)據(ju)

對平(ping)面(mian)和(he)曲(qu)面(mian)區域進(jin)行(xing)缺(que)陷檢(jian)測(ce)

橫(heng)向(xiang)分辨率高達10 µm

全(quan)自(zi)動或(huo)半(ban)自動(dong)操作(zuo)

可集(ji)成(cheng)到生(sheng)產(chan)線中(zhong)