產(chan)品中(zhong)心
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簡(jian)要(yao)描(miao)述(shu):產(chan)地類(lei)別 進(jin)口 價格區間(jian) 面(mian)議 儀器(qi)種(zhong)類(lei) 冷(leng)場發(fa)射 應用(yong)領(ling)域 能源,電子(zi),航天(tian),汽(qi)車,綜(zong)合(he) ......
產(chan)品型(xing)號:SU8600
廠商性(xing)質(zhi):代理商(shang)
更新(xin)時(shi)間(jian):2023-07-27
訪(fang) 問 量:1504產(chan)品分(fen)類(lei)
相(xiang)關文(wen)章(zhang)
詳(xiang)細介紹(shao)
| 品牌 | 其(qi)他品牌 |
|---|
日(ri)立(li)掃(sao)描(miao)電子顯(xian)微鏡
SU8600
高(gao)分辨場發(fa)射掃(sao)描(miao)電子顯(xian)微鏡 SU8600系(xi)列(lie)
*設備照(zhao)片包含(han)選(xuan)配項。
SU8600系(xi)列(lie)秉(bing)承(cheng)了Regulus8200系(xi)列(lie)的(de)高(gao)質(zhi)量圖像、大(da)束(shu)流(liu)分(fen)析(xi)及長時(shi)間(jian)穩定運(yun)行的(de)冷(leng)場成像技(ji)術(shu),同(tong)時還提(ti)升了(le)高(gao)通(tong)量、自動(dong)數據(ju)獲(huo)取(qu)能力。
特(te)點
*高(gao)分辨成(cheng)像
日(ri)立(li)的(de)高(gao)亮(liang)度(du)電子源可(ke)保證了(le)即(ji)使在(zai)低(di)著(zhe)陸電壓下,也(ye)可(ke)獲(huo)得(de)高分辨(bian)的(de)圖(tu)像。
高(gao)襯(chen)度(du)的(de)低(di)加(jia)速(su)電壓背散射圖(tu)像
3D NAND截(jie)面(mian)觀察;
在(zai)低(di)加(jia)速(su)電壓條件下,背散射電(dian)子(zi)信號能夠顯示(shi)出氧(yang)化矽層和(he)氮(dan)化(hua)矽層的(de)襯(chen)度(du)差別。
快(kuai)速(su)BSE圖(tu)像:新(xin)型(xing)閃(shan)爍(shuo)體(ti)背散射電(dian)子(zi)探測(ce)器(qi)(OCD)*
由(you)於使(shi)用(yong)了(le)新(xin)型(xing)的(de)OCD探(tan)測(ce)器(qi),即(ji)使掃(sao)描(miao)時間不(bu)到(dao)1秒(miao),也仍然可(ke)以觀(guan)察(cha)到(dao)Fin-FET清(qing)晰(xi)的(de)深層結(jie)構(gou)圖像.
自動(dong)化(hua)功能*
EM Flow Creator 允許客戶創(chuang)建(jian)連續圖像采(cai)集(ji)的(de)自動(dong)化(hua)工作流(liu)程(cheng)。EM Flow Creator將(jiang)不(bu)同(tong)的(de)SEM功能定義為圖(tu)形化的(de)模(mo)塊(kuai),如(ru)設置放(fang)大倍率(lv)、移(yi)動(dong)樣(yang)品位置、調(tiao)節(jie)焦(jiao)距(ju)和(he)明暗對(dui)比度(du)等(deng)。用(yong)戶(hu)可(ke)以通(tong)過簡(jian)單的(de)鼠(shu)標拖拽(zhuai),將這(zhe)些模(mo)塊(kuai)按(an)邏輯(ji)順序組(zu)成(cheng)壹(yi)個(ge)工作程序。經過(guo)調(tiao)試(shi)和(he)確(que)認後,該(gai)程(cheng)序便(bian)可(ke)以在(zai)每次調(tiao)用(yong)時(shi)自動(dong)獲(huo)得(de)高質(zhi)量、重現性(xing)好(hao)的(de)圖(tu)像數據(ju)。
靈(ling)活(huo)的(de)用(yong)戶(hu)界(jie)面(mian)
原生支(zhi)持雙(shuang)顯(xian)示(shi)器(qi),提(ti)供(gong)靈(ling)活(huo)、高效的(de)操(cao)作(zuo)空(kong)間。6通(tong)道同(tong)時顯示(shi)與保存(cun),實(shi)現快(kuai)速(su)的(de)多信號觀測(ce)與采(cai)集。
日(ri)立(li)掃(sao)描(miao)電子顯(xian)微鏡
技(ji)術(shu)參(can)數
機(ji)型 | SU8600 系(xi)列(lie) | |
電(dian)子光學系(xi)統 | 二(er)次電(dian)子(zi)像分(fen)辨(bian)率 | 0.6 nm@15 kV |
0.7 nm@1 kV * | ||
放(fang)大倍率(lv) | 20 to 2,000,000 x | |
電(dian)子槍 | 冷(leng)場發(fa)射電子(zi)源,支持(chi)柔性(xing)閃爍(shuo)功能,包含陽極烘烤(kao)系(xi)統。 | |
加(jia)速(su)電壓 | 0.5 to 30 kV | |
著(zhe)陸電壓 * | 0.01 to 20 kV | |
探(tan)測(ce)器(qi) | (部(bu)分為選(xuan)配項) | 上探(tan)測(ce)器(qi)(UD) |
UD ExB能(neng)量過濾(lv)器(qi),包(bao)含(han)SE/BSE信號混合(he)功能 | ||
下探(tan)測(ce)器(qi)(LD) | ||
頂探(tan)測(ce)器(qi)(TD) | ||
TD能(neng)量過濾(lv)器(qi) | ||
鏡筒內背散射電(dian)子(zi)探測(ce)器(qi)(IMD) | ||
半(ban)導體(ti)式(shi)背散射電(dian)子(zi)探測(ce)器(qi) (PD-BSED) | ||
新(xin)型(xing)閃(shan)爍(shuo)體(ti)式(shi)背散射電(dian)子(zi)探測(ce)器(qi)(OCD) | ||
陰極(ji)熒光探(tan)測(ce)器(qi)(CLD) | ||
掃(sao)描(miao)透(tou)射探測(ce)器(qi)(STEM Detector) | ||
附(fu)件 | (部(bu)分為選(xuan)配項) | 導(dao)航相(xiang)機(ji)、樣(yang)品(pin)室(shi)相(xiang)機(ji)、X射(she)線(xian)能(neng)譜(pu)儀(yi)(EDS)、背散射電(dian)子(zi)衍射(she)探測(ce)器(qi)(EBSD) |
軟(ruan)件 | (部(bu)分為選(xuan)配項) | EM Flow Creater、HD Capture( 40,960×30,720 像素(su)以下) |
樣(yang)品臺 | 馬(ma)達驅(qu)動(dong)軸(zhou) | 5軸(zhou)馬(ma)達(da)驅(qu)動(dong)(X/Y/R/Z/T) |
馬(ma)達驅(qu)動(dong)軸(zhou) | X:0~110 mm | |
Y:0~110 mm | ||
Z:1.5~40 mm | ||
T:-5~70° | ||
R:360° | ||
樣(yang)品室 | 樣(yang)品尺(chi)寸(cun) | 直(zhi)徑(jing)可(ke)達:150 mm |
*減速(su)模式(shi)下
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