美國SCS Omegameter600SMD 離子(zi)汙染測試(shi)儀是壹個采用(yong)靜態方(fang)法測試(shi)電路板及組(zu)裝電路(lu)板(ban)的(de)離(li)子(zi)汙(wu)染物的(de)工(gong)業(ye)標準。其采用(yong)加(jia)熱(re)和(he)攪拌(ban)萃取溶(rong)劑的(de)工(gong)作(zuo)方(fang)式(shi)溶解和(he)精(jing)確測量(liang)制作(zuo)和(he)板(ban)組(zu)裝(zhuang)過(guo)程中引入的(de)工(gong)業(ye)殘(can)渣汙(wu)染(ran)物。它是(shi)壹(yi)個有(you)效和(he)實(shi)用(yong)的(de)*工(gong)具(ju)，為(wei)商(shang)業(ye)清(qing)潔(jie)測試(shi)提供(gong)了(le)精(jing)確、可(ke)重(zhong)復(fu)快(kuai)速(su)的(de)結(jie)果。