每(mei)天(tian)產(chan)生高(gao)達 8000L 的 III 級(ji)實(shi)驗(yan)室級(ji)純(chun)水RiOs 反滲(shen)透(tou)系統設計(ji)為每(mei)天(tian)可以(yi)從自來(lai)水(shui)產(chan)生高(gao)達 8000L 的 III 級(ji)實(shi)驗(yan)室級(ji)純(chun)水。

保修(xiu)期(qi)三(san)年

采用(yong)的Ｘ射(she)線集(ji)束(shu)毛(mao)細(xi)管(guan)透鏡，X射(she)線只照射樣(yang)品的(de)50μmφ微(wei)小領(ling)域(yu)，從而達到高(gao)靈敏度、高(gao)精度分析(xi)！μEDX大(da)幅度地(di)提(ti)高(gao)了(le)傳(chuan)統(tong)的X射線熒光光譜(pu)儀(yi)無(wu)法(fa)完(wan)成的(de)微(wei)小(xiao)領域(yu)分析(xi)的(de)靈敏度。配(pei)備新開發(fa)的(de)X射(she)線集(ji)束(shu)毛(mao)細(xi)管(guan)透鏡，實(shi)現(xian)了(le)Z小(xiao)分析(xi)直(zhi)徑(jing)達50μm的微區測定，適(shi)合半(ban)導體(ti)/電(dian)子(zi)部件/食品領(ling)域(yu)等高(gao)靈敏度、高(gao)分辨率(lv)分析(xi)。

WA System C是(shi)測定濾(lv)過(guo)水，沈(chen)澱(dian)水，原(yuan)水(shui)的色(se)度等(deng)的(de)連(lian)續(xu)監(jian)測器，其(qi)根(gen)據上(shang)水試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)中(zhong)日常(chang)檢查項(xiang)目(mu)所確定(ding)的(de)色(se)度管(guan)理，以(yi)連(lian)續(xu)，自動(dong)方(fang)式(shi)進行(xing)。

本(ben)儀器(qi)是壹(yi)種手(shou)持(chi)式(shi)測量(liang)儀(yi)，它(ta)能(neng)快(kuai)速、無(wu)損(sun)傷(shang)、精密地測量(liang)非(fei)磁(ci)性(xing)金屬基(ji)體上(shang)非導電(dian)覆(fu)蓋(gai)層的(de)厚(hou)度。可(ke)廣(guang)泛(fan)用(yong)於在制(zhi)造業(ye)、金屬加工業、化(hua)工(gong)業、商檢等檢測領域(yu)。本(ben)儀器是材(cai)料(liao)保護(hu)專業(ye)*的(de)儀器(qi)。本儀器符(fu)合以(yi)下標(biao)準(zhun)： GB/T 4957─1985 非(fei)磁(ci)性金屬基(ji)體上(shang)非導電(dian)覆(fu)蓋(gai)層厚(hou)度測量(liang) 渦流(liu)方(fang)法(fa) JB/T 8393─1996 磁(ci)性(xing)和(he)渦流(liu)式(shi)覆(fu)層厚(hou)度測量(liang)儀(yi) JJG 818─93 《電(dian)渦流(liu)式(shi)測厚(hou)儀》

采用(yong)該系統可(ke)以(yi)解決(jue)黴菌(jun)的(de)測量(liang)問(wen)題(ti)。可以(yi)同時測量(liang)色(se)度和(he)濁(zhuo)度。雙(shuang)光束(shu)光學系統，改(gai)善了(le)測量(liang)的(de)準(zhun)確度。在(zai)色(se)度測量(liang)時(shi)的(de)濁(zhuo)度的(de)問(wen)題(ti)被解(jie)決(jue)。