應(ying)用(yong)領(ling)域(yu) 建(jian)材,電(dian)子(zi),汽(qi)車(che) 迅速(su)測(ce)定(ding)ppm級的(de)有(you)害金屬(shu)！ 應(ying)對(dui)WEEE & RoHS、ELV等(deng)有(you)害物(wu)質相關法(fa)規。 應(ying)對(dui)ASTM F963,EU_EN71美國(guo)和歐(ou)盟(meng)的(de)玩具(ju)法規和(he)指令(ling)，保(bao)證(zheng)產(chan)品和用料(liao)的(de)綠(lv)色(se)環(huan)保(bao)。 Ｘ射(she)線熒光(guang)分(fen)析裝(zhuang)置是使(shi)用(yong)Ｘ射(she)線照射(she)樣(yang)品，對(dui)產生(sheng)的熒(ying)光Ｘ射線的能量(liang)進(jin)行(xing)檢測(ce)，測定(ding)構(gou)成(cheng)樣品(pin)的(de)元(yuan)素種(zhong)類(lei)及含量(liang)的裝(zhuang)置(zhi)。可(ke)無損(sun)地進(jin)行(xing)固體、粉(fen)體、液(ye)體、磁盤、單晶片(pian)等(deng)的(de)元(yuan)素分(fen)析，廣(guang)泛應(ying)用(yong)於(yu)各(ge)個領(ling)域(yu)。

高重(zhong)現(xian)性(xing)、長壽命；極(ji)地的柱壓；高度(du)惰(duo)性(xing)；

EDX-GP是Z適合用於(yu)RoHS/ELV/無鹵素法(fa)規限(xian)制的(de)有(you)害元(yuan)素篩(shai)選分(fen)析的(de)X射線熒光(guang)分(fen)析裝(zhuang)置。*次使(shi)用(yong)，也(ye)能輕(qing)松(song)操(cao)作(zuo)，操(cao)作(zuo)簡(jian)便(bian)且(qie)以更(geng)高的(de)精(jing)度進(jin)行(xing)微量(liang)分(fen)析，達(da)到(dao)Z高靈(ling)敏(min)度與(yu)Z佳分(fen)辨(bian)率(lv)的(de)*結合。標(biao)準配(pei)置(zhi)RoHS/ELV/無鹵素分(fen)析所(suo)需的所有(you)必要(yao)功能，用(yong)戶無需購買特(te)殊(shu)選(xuan)購件，使(shi)可(ke)以獲(huo)得Z佳(jia)RoHS/ELV/無鹵素分(fen)析系統 。

XRF-1800從儀器的硬件與軟件在許多(duo)細節都進(jin)行(xing)了改進(jin)，使(shi)得儀(yi)器的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)與可(ke)操(cao)作(zuo)性(xing)更(geng)進(jin)壹(yi)步(bu)提(ti)高，增(zeng)加(jia)了世(shi)界(jie)*的(de)250μm微區分(fen)布成(cheng)像分(fen)析功能，從而達到(dao)更(geng)高水(shui)平的*程(cheng)度。作(zuo)為高靈(ling)敏(min)度和(he)微區分(fen)析的(de)*，島(dao)津(jin)公司非(fei)常自(zi)信(xin)地向用戶(hu)奉(feng)獻出(chu)的XRF-1800型(xing)X射線熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀。

島(dao)津(jin)多(duo)道(dao)X射線熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀MXF-2400是升級(ji)型(xing)的多(duo)道(dao)型(xing)X射線熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀。MXF-2400采用(yong)根(gen)據X射線熒光(guang)分(fen)析原(yuan)理新設計的硬件以及配(pei)備(bei)豐富軟件數據(ju)處(chu)理裝(zhuang)置，全自(zi)動進(jin)行(xing)分(fen)析數(shu)據的管理(li)，非(fei)常適合工(gong)程(cheng)管理(li)、研究(jiu)使(shi)用(yong)。可(ke)同時分(fen)析36種(zhong)元素，再加上(shang)單(dan)道(dao)掃描型(xing)分(fen)光器(qi)可(ke)同時處(chu)理48種(zhong)元素，實(shi)現了傳(chuan)統X射線熒光(guang)裝(zhuang)置難以(yi)做(zuo)到(dao)的(de)數ppm級的高靈(ling)敏(min)度、高精(jing)度(du)分(fen)析。

采用(yong)的(de)Ｘ射線集束(shu)毛(mao)細管透鏡(jing)，X射線只(zhi)照(zhao)射(she)樣(yang)品的50μmφ微小(xiao)領(ling)域(yu)，從而達到(dao)高靈(ling)敏(min)度、高精(jing)度(du)分(fen)析！μEDX大(da)幅度(du)地提高了傳(chuan)統的X射(she)線熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀無法完成(cheng)的微小(xiao)領(ling)域(yu)分(fen)析的(de)靈敏度。配(pei)備(bei)新開(kai)發(fa)的X射(she)線集束(shu)毛(mao)細管透鏡(jing)，實(shi)現了Z小(xiao)分(fen)析直徑(jing)達(da)50μm的(de)微區測(ce)定(ding)，適合半導體/電(dian)子(zi)部(bu)件/食品(pin)領(ling)域(yu)等(deng)高靈(ling)敏(min)度、高分(fen)辨(bian)率(lv)分(fen)析。