QUV紫外(wai)老(lao)化(hua)箱(xiang)燈(deng)管

簡要描述：各種(zhong)波(bo)長(chang)的(de)UVA和(he)UVB燈(deng)管

產品型號：UVA&UVB
廠(chang)商性(xing)質：代(dai)理商
更新(xin)時間：2023-07-26
訪(fang) 問量：856

產品咨詢(xun)聯(lian)系(xi)我(wo)們

產品分(fen)類(lei)

美(mei)國(guo)福(fu)祿克(ke)fluke

福(fu)祿克(ke)fluke 435
荷蘭(lan)Haffmans（哈夫(fu)曼）

哈夫(fu)曼系(xi)列(lie)產品 HAFFMANS Vos Rota 90/25-90臺式(shi)濁度(du)儀
Micro Support
日(ri)本光洋熱(re)系統(tong)
日本(ben)UBM
美國(guo)Pollution Control Products
thermax測(ce)溫(wen)紙
英(ying)國(guo)邁(mai)菱(ling)Mecmesin
斯(si)諾爾(er)（SNOL）

工業爐(lu) 實(shi)驗(yan)室電(dian)爐(lu)
荷蘭(lan)microLAN
顯(xian)微(wei)測(ce)厚(hou)儀
日(ri)本LUCEO
東(dong)芝TOSHIBA

小型X射(she)線(xian)檢查(zha)裝置(zhi)TOSMICRON-C系(xi)列(lie)/CH系列(lie) 微(wei)焦X射線(xian)檢查(zha)裝置(zhi)TOSMICRON-S系(xi)列(lie)/SH系列(lie) X射線(xian)CT掃描儀(yi)TOSCANER
日(ri)本(ben)HEIDON
伊(yi)斯(si)拉視(shi)像(xiang)ISRA VISION
IMASS
日(ri)本理研
日(ri)本東(dong)上熱學

ATO-101/HO-101
James Heal
實(shi)驗(yan)室自(zi)動(dong)化(hua)系統(tong)
英(ying)國(guo)ATAC
日(ri)本EKO
being
韓國(guo)太(tai)成（TAE SUNG）

TSA-101, 102, 103自(zi)動(dong)彈(dan)出抽屜(ti)式(shi)烘箱
減(jian)反(fan)射(she)膜(mo)反(fan)射比智(zhi)能(neng)測(ce)試(shi)儀
日(ri)本(ben)中(zhong)村科(ke)學
荷蘭(lan)TQC
瑞(rui)士(shi)萬(wan)通(tong)

電(dian)導(dao)率儀系列(lie) 離子(zi)濃(nong)度(du)計系(xi)列(lie) 全(quan)自(zi)動(dong)電(dian)位(wei)滴(di)定(ding)儀(yi)系(xi)列(lie) PH計系(xi)列(lie)
王子(zi)計測(ce)OSI
塗(tu)裝行(xing)業檢測(ce)設(she)備

原漆性(xing)能(neng)系列(lie) 環境(jing)測(ce)試(shi)系列(lie) 高(gao)速(su)分(fen)散(san)試(shi)驗(yan)機系列(lie) 粘度(du)系列(lie) 耐沖擊(ji)系列(lie) 測(ce)厚(hou)儀系(xi)列(lie) 塗(tu)膜制(zhi)膜系列(lie) 彎曲柔韌性(xing)系列(lie) 耐摩(mo)擦試驗(yan)系(xi)列(lie) 光澤(ze)計(ji)系列(lie) 附(fu)著(zhe)力(li)系列(lie) 測(ce)色系列(lie)
柴(chai)田(tian)科(ke)學SIBATA

環境(jing)測(ce)定(ding)儀(yi)器(qi)
日(ri)本(ben)TOPCON
物理性(xing)能(neng)測(ce)試(shi)儀器(qi)

硬(ying)度(du)計系(xi)列(lie) 材(cai)料試驗機系列(lie)
MAAG瑪格(ge)儀器(qi)

靜(jing)電(dian)植(zhi)絨裝置(zhi)
上(shang)海首立
日本ATAGO（愛宕(dang)）折(zhe)光儀
美(mei)國(guo)MOCON

透濕(shi)率(lv)測(ce)試(shi)儀
日(ri)本(ben)菊(ju)水(shui)KIKUSUI
德國(guo)烘箱

德國(guo)Binder 德國(guo)Memmert
賽(sai)默飛(fei)世(shi)爾(er)Thermo Fisher

霧化儀PC201 VOC檢測(ce)儀(yi)/TVOC檢
數(shu)顯V棱(leng)鏡折(zhe)射(she)率測(ce)試(shi)儀
美(mei)國(guo)博(bo)勒飛(fei)
萊卡(ka)Leica切(qie)片(pian)機和(he)顯微(wei)鏡
日(ri)本(ben)東芝

三(san)維超聲波(bo)電(dian)焊(han)測(ce)試(shi)儀
韓(han)國(guo)NanoSvstem

非(fei)接觸光學表面(mian)接觸測(ce)量
島津(jin)設(she)備耗(hao)材(cai)

島(dao)津(jin)Shimadzu系(xi)列(lie)氣相(xiang)色譜柱(zhu) 島(dao)津InertSep WondaSep系列(lie)固(gu)相萃取小(xiao)柱(zhu) 島(dao)津(jin)全(quan)自(zi)動(dong)水(shui)質固(gu)相萃取裝置(zhi)AQUA Trace
COFOMEGRA鹽(yan)霧腐蝕試(shi)驗箱(xiang)
日本(ben)英(ying)弘精(jing)機

熱導(dao)率傳(chuan)感(gan)儀(yi)
SSD電(dian)離(li)器

ZAPPⅡ電(dian)離(li)器
美國(guo)LAWSON勞(lao)森海默菲(fei)爾

新(xin)型織(zhi)物撕(si)裂(lie)測(ce)試(shi)儀83-20系(xi)列(lie) ADF-W紗(sha)線強(qiang)伸度(du)測(ce)試(shi)儀
美(mei)國(guo)哈希HACH

D190便(bian)攜式(shi)金屬(shu)離子濃(nong)度(du)分(fen)析(xi)儀(yi) LUMIStox300型生(sheng)物毒(du)性(xing)測(ce)試(shi)儀
菲(fei)思(si)圖(tu)phaseⅡ

便(bian)攜式(shi)硬度(du)計
法(fa)國(guo)凱(kai)茂KIMO

法國(guo)凱(kai)茂KIMO多(duo)功(gong)能(neng)煙氣(qi)分(fen)析(xi)儀(yi)KIGAZ 800
德國(guo)SI Analytics

Titroline 7000多(duo)功(gong)能(neng)電(dian)位(wei)滴(di)定(ding)儀(yi)
日(ri)本(ben)京(jing)都(dou)電(dian)子(zi)KEM

日本KEM 自(zi)動(dong)電(dian)位(wei)滴(di)定(ding)儀(yi)AT-510
日(ri)本(ben)AND天(tian)平

日本AND電(dian)子(zi)天平 FZ-3000i 日本AND電(dian)子(zi)天平GP-60K
倒置(zhi)金(jin)相(xiang)分(fen)析(xi)顯(xian)微(wei)鏡

JX-2000內(nei)置(zhi)數(shu)碼金(jin)相(xiang)顯微(wei)鏡
日(ri)本(ben)電(dian)色NIPPON DENSHOKU

光澤(ze)度(du)儀反(fan)射率(lv)儀濁度(du)儀霧度(du)儀色差儀(yi)
美(mei)國(guo)TPS

高(gao)溫烘箱環(huan)境(jing)試驗箱(xiang) Tenny 烘箱
試(shi)劑膠水耗(hao)材(cai)

漢(han)高(gao)Henkel表面(mian)處(chu)理劑哈希儀(yi)器及(ji)試(shi)劑金屬表面(mian)處(chu)理劑德國(guo)默克(ke)
其(qi)余(yu)檢測(ce)儀(yi)器設(she)備

德國(guo)Petrotest測(ce)試(shi)儀萊(lai)伯(bo)泰(tai)科(ke) 英(ying)國(guo)艾(ai)德姆(mu)衡(heng)器(qi) 通用檢測(ce)儀(yi)器美(mei)國(guo)BROOKFIELD 德國(guo)jena 德國(guo)ELMA 美(mei)國(guo)GE 國(guo)產色差儀(yi) 施(shi)泰力(li)（Starrett）三恩馳島津（大型儀(yi)器(qi)） TIME時代(dai)檢測(ce)儀(yi)器福(fu)祿克(ke)Fluke元素分(fen)析(xi)儀(yi) 電(dian)子(zi)天平 Fischer鍍(du)層測(ce)厚(hou)儀水(shui)分(fen)測(ce)定(ding)儀(yi) 瑞(rui)典AB顯微(wei)測(ce)厚(hou)儀 Yakos65生(sheng)物安(an)全(quan)櫃(gui)
英(ying)國(guo)ELGA超純水(shui)機
美國(guo)AZI儀(yi)器Jerome環境檢測(ce)儀(yi)器

Jerome硫(liu)化(hua)氫測(ce)定(ding)儀(yi) Jerome測(ce)汞(gong)儀空(kong)氣(qi)汙染監(jian)測(ce)儀(yi)AP-370系列(lie)
日本(ben)電(dian)色儀器(qi)

光澤(ze)度(du)計顏(yan)色測(ce)量儀器(qi)
SDT超聲波(bo)檢測(ce)儀(yi)
眼(yan)鏡檢測(ce)設(she)備

眼(yan)鏡設(she)備意(yi)大(da)利(li)LEMA 英(ying)國(guo)INSPEC 量計系(xi)列(lie) 物理測(ce)試(shi)系列(lie) 光學測(ce)試(shi)系列(lie)
日本(ben)HIRAYAMA
日本KETT
氣體檢測(ce)儀(yi)

德國(guo)德圖(tu)（testo）儀(yi)器(qi) 美(mei)國(guo)MSA氣(qi)體檢測(ce)儀(yi) 英(ying)思科(ke)氣體檢測(ce)儀(yi)
MOCON
進口(kou)色差儀(yi)

愛色麗（X-rite）
日(ri)本(ben)INTEC
德國(guo)馬(ma)爾
日立HITACHI
寫真化(hua)學SHASHIN KAGAKU
HORIBA（過(guo)程(cheng)&環(huan)境）

煙氣分(fen)析(xi)系(xi)統(tong) RoHS檢測(ce)儀(yi)器油(you)份(fen)分(fen)析(xi)儀(yi) 水(shui)質(zhi)測(ce)量分(fen)析(xi) 光澤(ze)儀(yi) 水處理及(ji)環(huan)境(jing) 大(da)氣(qi)汙染成分(fen)分(fen)析(xi) 過(guo)程(cheng)分(fen)析(xi)
HORIBA（理科(ke)學）

X射線(xian)熒(ying)光分(fen)析(xi)儀(yi) X射(she)線(xian)熒光光譜儀(yi)
萩原工業株式(shi)會(hui)社HAGIHARA
美國(guo)首(shou)立
德國(guo)Wolfgang Warmbier

表(biao)面(mian)阻抗測(ce)試(shi)器
日(ri)本(ben)U-TECHNOLOGY
德國(guo)尼克(ke)斯

膜厚(hou)儀
美(mei)國(guo)Thwing-Albert
日(ri)本TECMAN
TECAN 帝肯
美(mei)國(guo)SCS

離(li)子汙染測(ce)試(shi)儀
島(dao)津(jin)
德國(guo) IKA艾(ai)卡
英(ying)國(guo)OTI
NIKKATO
日(ri)本JASCO
柴(chai)田(tian)科(ke)學
折(zhe)原製(製)作所(suo)ORIHARA
日(ri)本島(dao)津揮發性(xing)有機物VOC檢測(ce)

汽(qi)車內(nei)飾(shi)材(cai)VOC檢測(ce)
大(da)明(ming)化學工業株式(shi)會(hui)社
日本(ben)愛泰(tai)克(ke)（ETAC）

環境(jing)試驗箱自(zi)動(dong)測(ce)試(shi)系統(tong) 絕緣可靠(kao)性(xing)評(ping)價系統(tong)
瑞(rui)士(shi)梅特勒
美(mei)國(guo)RoadVista
紅魔(mo)鬼(gui)Red Devil
美(mei)國(guo)AZI

CTZ-V3100L
雅(ya)馬拓(tuo)YAMATO
韓(han)國(guo)NanoSystem
日(ri)本KYOWA
村上(shang)色彩MCRL
美國(guo)AXOMETRICS
日(ri)本OSG
IHARA伊(yi)原電(dian)子(zi)
愛麗(li)色X-RITE
TSI
駿河精機(機)SURUGA SEIKI
日(ri)本AcroEdge
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常用郵(you)箱(xiang)：
省份：
詳(xiang)細(xi)地(di)址(zhi)：
補充說(shuo)明(ming)：
驗(yan)證(zheng)碼：

請(qing)輸入(ru)計算(suan)結(jie)果（填寫(xie)阿拉伯(bo)數(shu)字），如(ru)：三加(jia)四(si)=7

上(shang)壹(yi)篇(pian)：519型自(zi)動(dong)潮(chao)濕(shi)試(shi)驗(yan)箱
下(xia)壹(yi)篇(pian)：Elcometer 3230濕(shi)膜(mo)輪(lun)

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